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该设备主要用于半导体器件芯片的中测,与相应测试仪器配接后,可自动完成对集成电路芯片及各种晶体管芯的电参数测试及功能测试。
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该设备主要用于半导体器件芯片的中测,与相应测试仪器配接后,可自动完成对集成电路芯片及各种晶体管芯的电参数测试及功能测试。
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